文章旅美胡正明同乡荣获九一年度「杰出设计奖」

来源期刊：《金壇鄉訊》 第74期　 出版时间：1991-06-05
关键字： 胡正明 杰出设计奖 积体电路 计算机软体BERT 可靠性

据在美出版的世界日报本年三月二十九日所载美西新闻版报导：加大华裔教授胡正明以其测试积体电路可靠性的计算机软体，赢得美国「设计新闻杂志（Design News）颁发的九一年度「杰出设计奖」（Excellence in Design）。全美共有五人得此奖，只有胡正明一人来自学术机构，其余四人都是私人公司的工程师。胡正明廿八日接受采访时说，按传统方法测试积体电路（Integrated Circuit）之可靠性，要在电路设计并装配完工之后进行，若发现问题，须重新